nav atļauts
nav atļauts
Digitālo tiesību pārvaldība (Digital Rights Management (DRM))
Izdevējs ir piegādājis šo grāmatu šifrētā veidā, kas nozīmē, ka jums ir jāinstalē bezmaksas programmatūra, lai to atbloķētu un lasītu. Lai lasītu šo e-grāmatu, jums ir jāizveido Adobe ID. Vairāk informācijas šeit. E-grāmatu var lasīt un lejupielādēt līdz 6 ierīcēm (vienam lietotājam ar vienu un to pašu Adobe ID).
Nepieciešamā programmatūra
Lai lasītu šo e-grāmatu mobilajā ierīcē (tālrunī vai planšetdatorā), jums būs jāinstalē šī bezmaksas lietotne: PocketBook Reader (iOS / Android)
Lai lejupielādētu un lasītu šo e-grāmatu datorā vai Mac datorā, jums ir nepieciešamid Adobe Digital Editions (šī ir bezmaksas lietotne, kas īpaši izstrādāta e-grāmatām. Tā nav tas pats, kas Adobe Reader, kas, iespējams, jau ir jūsu datorā.)
Jūs nevarat lasīt šo e-grāmatu, izmantojot Amazon Kindle.
1. Principles and Basic Modes of Atomic Force Microscopy
2. Advanced Modes of Electrostatic and Kelvin Probe Force Microscopy for Energy Applications
3. Piezoresponse Force Microscopy and Electrochemical Strain Microscopy
4. Hybrid AFM Technique: Atomic Force Microscopy-Scanning Electrochemical Microscopy
5. Scanning Microwave Impedance Microscopy
6. Atomic Force Microscopy-Based Infrared Microscopy for Chemical Nano-Imaging and Spectroscopy
7. Application of AFM in Lithium Batteries Research
8. Application of AFM in Solar Cell Research
9. Application of AFM for Analyzing the Microstructure of Ferroelectric Polymer as an Energy Material
10. Application of AFM in Microbial Energy Systems
11. Practical Guidance of AFM Operations for Energy Research