Atjaunināt sīkdatņu piekrišanu

E-grāmata: Fiber Bundles: Statistical Models and Applications

, , , ,
  • Formāts: EPUB+DRM
  • Izdošanas datums: 15-Mar-2023
  • Izdevniecība: Springer International Publishing AG
  • Valoda: eng
  • ISBN-13: 9783031147975
Citas grāmatas par šo tēmu:
  • Formāts - EPUB+DRM
  • Cena: 118,37 €*
  • * ši ir gala cena, t.i., netiek piemērotas nekādas papildus atlaides
  • Ielikt grozā
  • Pievienot vēlmju sarakstam
  • Šī e-grāmata paredzēta tikai personīgai lietošanai. E-grāmatas nav iespējams atgriezt un nauda par iegādātajām e-grāmatām netiek atmaksāta.
Fiber Bundles: Statistical Models and ApplicationsPalielināt
  • Formāts: EPUB+DRM
  • Izdošanas datums: 15-Mar-2023
  • Izdevniecība: Springer International Publishing AG
  • Valoda: eng
  • ISBN-13: 9783031147975
Citas grāmatas par šo tēmu:

DRM restrictions

  • Kopēšana (kopēt/ievietot):

    nav atļauts

  • Drukāšana:

    nav atļauts

  • Lietošana:

    Digitālo tiesību pārvaldība (Digital Rights Management (DRM))
    Izdevējs ir piegādājis šo grāmatu šifrētā veidā, kas nozīmē, ka jums ir jāinstalē bezmaksas programmatūra, lai to atbloķētu un lasītu. Lai lasītu šo e-grāmatu, jums ir jāizveido Adobe ID. Vairāk informācijas šeit. E-grāmatu var lasīt un lejupielādēt līdz 6 ierīcēm (vienam lietotājam ar vienu un to pašu Adobe ID).

    Nepieciešamā programmatūra
    Lai lasītu šo e-grāmatu mobilajā ierīcē (tālrunī vai planšetdatorā), jums būs jāinstalē šī bezmaksas lietotne: PocketBook Reader (iOS / Android)

    Lai lejupielādētu un lasītu šo e-grāmatu datorā vai Mac datorā, jums ir nepieciešamid Adobe Digital Editions (šī ir bezmaksas lietotne, kas īpaši izstrādāta e-grāmatām. Tā nav tas pats, kas Adobe Reader, kas, iespējams, jau ir jūsu datorā.)

    Jūs nevarat lasīt šo e-grāmatu, izmantojot Amazon Kindle.

This book presents a critical overview of statistical fiber bundle models, including existing models and potential new ones. The authors focus on both the physical and statistical aspects of a specific load-sharing example: the breakdown for circuits of capacitors and related dielectrics. In addition, they investigate some areas of open research.

This book is designed for graduate students and researchers in statistics, materials science, engineering, physics, and related fields, as well as practitioners and technicians in materials science and mechanical engineering.

1. Introduction and Preliminaries.-
2. Electrical Circuits of Ordinary Capacitors.-
3. Breakdown of Thin-Film Dielectrics.-
4. Cell Models for Dielectrics.-
5. Electrical Breakdown and the Breakdown Formalism.-
6. Statistical Properties of a Load-Sharing Bundle.-
7. Statistical Analysis of Kim and Lee (2004)'s Data.-
8. Circuits of Ordinary Capacitors.-
9. Size Effects Relationships Motivated by the Load-Sharing Cell Model.-
10. Concluding Comments and Future Research Directions.
James U. Gleaton is Professor Emeritus in the Department of Mathematics and Statistics at the University of North Florida.

David Han is Associate Professor of Management Science and Statistics at the University of Texas at San Antonio.

James D. Lynch is Distinguished Professor Emeritus in the Department of Statistics at the University of South Carolina.

Hon Keung Tony Ng is Professor in the Department of Mathematical Sciences at Bentley University.

Fabrizio Ruggeri is Research Director at the Italian National Research Council in Milan.
Biežāk uzdotie jautājumi par e-grāmatām Biežāk uzdotie jautājumi par e-grāmatām
Permanent link: https://www.kriso.lv/db/97830311479756e.html
Keywords: