Atjaunināt sīkdatņu piekrišanu

E-grāmata: Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits

Citas grāmatas par šo tēmu:
  • Formāts - PDF+DRM
  • Cena: 53,52 €*
  • * ši ir gala cena, t.i., netiek piemērotas nekādas papildus atlaides
  • Ielikt grozā
  • Pievienot vēlmju sarakstam
  • Šī e-grāmata paredzēta tikai personīgai lietošanai. E-grāmatas nav iespējams atgriezt un nauda par iegādātajām e-grāmatām netiek atmaksāta.
Noise Contamination in Nanoscale VLSI CircuitsPalielināt
Citas grāmatas par šo tēmu:

DRM restrictions

  • Kopēšana (kopēt/ievietot):

    nav atļauts

  • Drukāšana:

    nav atļauts

  • Lietošana:

    Digitālo tiesību pārvaldība (Digital Rights Management (DRM))
    Izdevējs ir piegādājis šo grāmatu šifrētā veidā, kas nozīmē, ka jums ir jāinstalē bezmaksas programmatūra, lai to atbloķētu un lasītu. Lai lasītu šo e-grāmatu, jums ir jāizveido Adobe ID. Vairāk informācijas šeit. E-grāmatu var lasīt un lejupielādēt līdz 6 ierīcēm (vienam lietotājam ar vienu un to pašu Adobe ID).

    Nepieciešamā programmatūra
    Lai lasītu šo e-grāmatu mobilajā ierīcē (tālrunī vai planšetdatorā), jums būs jāinstalē šī bezmaksas lietotne: PocketBook Reader (iOS / Android)

    Lai lejupielādētu un lasītu šo e-grāmatu datorā vai Mac datorā, jums ir nepieciešamid Adobe Digital Editions (šī ir bezmaksas lietotne, kas īpaši izstrādāta e-grāmatām. Tā nav tas pats, kas Adobe Reader, kas, iespējams, jau ir jūsu datorā.)

    Jūs nevarat lasīt šo e-grāmatu, izmantojot Amazon Kindle.

This textbook provides readers with a comprehensive introduction to various noise sources that significantly reduce performance and reliability in nanometer-scale integrated circuits. The author covers different types of noise, such as crosstalk noise caused by signal switching of adjacent wires, power supply noise or IR voltage drop in the power line due to simultaneous buffer / gate switching events, substrate coupling noise, radiation-induced transients, thermally induced noise and noise due to process and environmental Coverages also includes the relationship between some of these noise sources, as well as compound effects, and modeling and mitigation of noise mechanisms.

Introduction.- Interconnect Noise.- Clock Noise and Uncertainty.- Power Supply Noise.- Substrate Coupling Noise.- Radiation Induced Soft Error Mechanisms.- Thermally Induced Errors.- Impact of Process Variations.

Selahattin Sayil received the M.Sc. degree from the Pennsylvania State University, University Park, PA, in 1996 and the Ph.D. degree in Electrical Engineering from Vanderbilt University, TN, in 2000. He is currently a Professor and Distinguished Faculty Fellow in Electrical Engineering at Lamar University, where he leads the VLSI CAD and Signal Integrity Group.  His current research interests include mitigation of radiation effects in VLSI, interconnect delay and noise analysis, low-power design and testing. His teaching interests include online teaching, high-impact online labs and virtual team learning. He has authored two books, two book chapters and published near thirty refereed journal articles that include special feature articles, and presented at many international conferences. He is a member of IEEE and serves as an Associate Editor for International Journal of Electronics.
Biežāk uzdotie jautājumi par e-grāmatām Biežāk uzdotie jautājumi par e-grāmatām
Permanent link: https://www.kriso.lv/db/97830311275192e.html
Keywords: