Atjaunināt sīkdatņu piekrišanu

E-grāmata: Surface Metrology for Micro- and Nanofabrication

4.00/5 (2 ratings by Goodreads)
(Chair, Precision Nanometrology Laboratory; Director, Research Center for Precision Nanosystems, Department of Fine Mechanics, Graduate School of Engineering, Tohoku University, Japan)
  • Formāts: EPUB+DRM
  • Sērija : Micro & Nano Technologies
  • Izdošanas datums: 30-Oct-2020
  • Izdevniecība: Elsevier Science Publishing Co Inc
  • Valoda: eng
  • ISBN-13: 9780128178515
Citas grāmatas par šo tēmu:
  • Formāts - EPUB+DRM
  • Cena: 223,53 €*
  • * ši ir gala cena, t.i., netiek piemērotas nekādas papildus atlaides
  • Ielikt grozā
  • Pievienot vēlmju sarakstam
  • Šī e-grāmata paredzēta tikai personīgai lietošanai. E-grāmatas nav iespējams atgriezt un nauda par iegādātajām e-grāmatām netiek atmaksāta.
Surface Metrology for Micro- and NanofabricationPalielināt
  • Formāts: EPUB+DRM
  • Sērija : Micro & Nano Technologies
  • Izdošanas datums: 30-Oct-2020
  • Izdevniecība: Elsevier Science Publishing Co Inc
  • Valoda: eng
  • ISBN-13: 9780128178515
Citas grāmatas par šo tēmu:

DRM restrictions

  • Kopēšana (kopēt/ievietot):

    nav atļauts

  • Drukāšana:

    nav atļauts

  • Lietošana:

    Digitālo tiesību pārvaldība (Digital Rights Management (DRM))
    Izdevējs ir piegādājis šo grāmatu šifrētā veidā, kas nozīmē, ka jums ir jāinstalē bezmaksas programmatūra, lai to atbloķētu un lasītu. Lai lasītu šo e-grāmatu, jums ir jāizveido Adobe ID. Vairāk informācijas šeit. E-grāmatu var lasīt un lejupielādēt līdz 6 ierīcēm (vienam lietotājam ar vienu un to pašu Adobe ID).

    Nepieciešamā programmatūra
    Lai lasītu šo e-grāmatu mobilajā ierīcē (tālrunī vai planšetdatorā), jums būs jāinstalē šī bezmaksas lietotne: PocketBook Reader (iOS / Android)

    Lai lejupielādētu un lasītu šo e-grāmatu datorā vai Mac datorā, jums ir nepieciešamid Adobe Digital Editions (šī ir bezmaksas lietotne, kas īpaši izstrādāta e-grāmatām. Tā nav tas pats, kas Adobe Reader, kas, iespējams, jau ir jūsu datorā.)

    Jūs nevarat lasīt šo e-grāmatu, izmantojot Amazon Kindle.

Surface Metrology for Micro- and Nanofabrication presents state-of-the-art measurement technologies for surface metrology in fabrication of micro- and nanodevices or components. This includes the newest general-purpose scanning probe microscopes, and both contact and non-contact surface profilers. In addition, the book outlines characterization and calibration techniques, as well as in-situ, on-machine, and in-process measurements for micro- and nanofabrication.
  • Provides materials scientists and engineers with an informed overview of the state-of-the-art in surface metrology
  • Helps readers select and design the optimized surface metrology systems and carry out proper surface metrology practices in the fabrication of micro/nano-devices and components
  • Assesses the best techniques for repairing micro-defects

1. Noncontact Scanning Electrostatic Force Microscope2. Quartz Tuning Fork Atomic Force Microscope3. Micropipette Ball Probing System4. Low-Force Elastic Beam Surface Profiler5. Linear-Scan Micro Roundness Measuring Machine6. Micro-Gear Measuring Machine7. On-Machine Length Gauge Surface Profiler8. On-Machine Air-Bearing Surface Profiler9. On-Machine Atomic Force Microscope10. On-Machine Roll Profiler11. In-Process Fast Tool Servo Profiler12. Self-Calibration of Prove Tip Radius and Cutting Edge Sharpness

Prof. Wei Gao is the Chair of the Precision Nanometrology Laboratory and Director of the Research Center for Precision Nanosystems at the Department of Fine Mechanics in the Graduate School of Engineering, Tohoku University, Japan. His research focuses on precision engineering, precision metrology, micro/nano-nanometrology, optical sensors, surface metrology, on-machine and in-process measurement, and motion measurement.
Biežāk uzdotie jautājumi par e-grāmatām Biežāk uzdotie jautājumi par e-grāmatām
Permanent link: https://www.kriso.lv/db/97801281785156e.html
Keywords: