Klientu atbalsts: 27018494

Grāmatu iegāde | Jauns profils | Ienākt

LAT

Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano- Material Systems [Mīkstie vāki]

Norbert Meyendorf, George Y. Baakini, Bernd Michel

Formāts: Paperback / softback, 276 pages, Illustrations
Sērija : Proceedings of SPIE Vol 5045
Izdošanas datums: 01-Jan-2003
Izdevniecība: SPIE Press
ISBN-10: 0819448508
ISBN-13: 9780819448507

Citas grāmatas par šo tēmu:

Electronics & communications engineering - (Noliktavā: 1 punkts)
Reliability engineering
Materials science - (Noliktavā: 6 punkts)

Mīkstie vāki
Cena: 131,38 €
Grāmatu piegādes laiks ir 3-4 nedēļas, ja grāmata ir uz vietas izdevniecības noliktavā. Ja izdevējam nepieciešams publicēt jaunu tirāžu, grāmatas piegāde var aizkavēties.
Daudzums:
- - 1
  - 2
  - 3
  - 4
  - 5
  - 6
  - 7
  - 8
  - 9
  - 10
Ielikt grozā
Piegādes laiks - 4-6 nedēļas
Pievienot vēlmju sarakstam

Testing, Reliability, and Application of Micro- and Nano- Material Systems

Formāts: Paperback / softback, 276 pages, Illustrations
Sērija : Proceedings of SPIE Vol 5045
Izdošanas datums: 01-Jan-2003
Izdevniecība: SPIE Press
ISBN-10: 0819448508
ISBN-13: 9780819448507

Citas grāmatas par šo tēmu:

Electronics & communications engineering - (Noliktavā: 1 punkts)
Reliability engineering
Materials science - (Noliktavā: 6 punkts)

Permanent link: https://www.kriso.lv/db/9780819448507.html

Keywords:

Goodreads reviews