Atjaunināt sīkdatņu piekrišanu

E-grāmata: Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

, , , , ,
  • Formāts: PDF+DRM
  • Sērija : CPSS Power Electronics Series
  • Izdošanas datums: 08-Jul-2022
  • Izdevniecība: Springer Verlag, Singapore
  • Valoda: eng
  • ISBN-13: 9789811931321
Citas grāmatas par šo tēmu:
  • Formāts - PDF+DRM
  • Cena: 154,06 €*
  • * ši ir gala cena, t.i., netiek piemērotas nekādas papildus atlaides
  • Ielikt grozā
  • Pievienot vēlmju sarakstam
  • Šī e-grāmata paredzēta tikai personīgai lietošanai. E-grāmatas nav iespējams atgriezt un nauda par iegādātajām e-grāmatām netiek atmaksāta.
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy SystemPalielināt
  • Formāts: PDF+DRM
  • Sērija : CPSS Power Electronics Series
  • Izdošanas datums: 08-Jul-2022
  • Izdevniecība: Springer Verlag, Singapore
  • Valoda: eng
  • ISBN-13: 9789811931321
Citas grāmatas par šo tēmu:

DRM restrictions

  • Kopēšana (kopēt/ievietot):

    nav atļauts

  • Drukāšana:

    nav atļauts

  • Lietošana:

    Digitālo tiesību pārvaldība (Digital Rights Management (DRM))
    Izdevējs ir piegādājis šo grāmatu šifrētā veidā, kas nozīmē, ka jums ir jāinstalē bezmaksas programmatūra, lai to atbloķētu un lasītu. Lai lasītu šo e-grāmatu, jums ir jāizveido Adobe ID. Vairāk informācijas šeit. E-grāmatu var lasīt un lejupielādēt līdz 6 ierīcēm (vienam lietotājam ar vienu un to pašu Adobe ID).

    Nepieciešamā programmatūra
    Lai lasītu šo e-grāmatu mobilajā ierīcē (tālrunī vai planšetdatorā), jums būs jāinstalē šī bezmaksas lietotne: PocketBook Reader (iOS / Android)

    Lai lejupielādētu un lasītu šo e-grāmatu datorā vai Mac datorā, jums ir nepieciešamid Adobe Digital Editions (šī ir bezmaksas lietotne, kas īpaši izstrādāta e-grāmatām. Tā nav tas pats, kas Adobe Reader, kas, iespējams, jau ir jūsu datorā.)

    Jūs nevarat lasīt šo e-grāmatu, izmantojot Amazon Kindle.

This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device. 
Introduction.- Thermal fatigue failure mechanism of power devices in
renewable energy system.- Thermal model and thermal parameters
monitoring.- Thermal analysis of power semiconductor device in renewable
energy system.- Multi-time scale lifetime evaluation for the device in the
renewable application.- Thermal management design and optimization.- Prospect.
Xiong Du obtained his B.S., M.S., and Ph. D. degrees from Chongqing University, China in 2000, 2002, and 2005 respectively, all in the Electrical Engineering. He has been with Chongqing University since 2002 and is currently a full professor in the School of Electrical Engineering, Chongqing University. He was a visiting scholar at Rensselaer Polytechnic Institute, Troy, NY from July 2007 to July 2008. His research interests include power electronics system reliability and stability. He is a recipient of the National Excellent Doctoral Dissertation of P.R. China in 2008. Jun Zhang obtained his B.S. degree from Anhui University, China, in 2014 and Ph. D. degree from Chongqing University, China, in 2019, all in the Electrical Engineering. He is currently working as a lecture in the College of Energy and Electrical Engineering, Hohai University, Nanjing, China. His research interests include the reliability of power electronics system.
Biežāk uzdotie jautājumi par e-grāmatām Biežāk uzdotie jautājumi par e-grāmatām
Permanent link: https://www.kriso.lv/db/97898119313212e.html
Keywords: